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檢測(cè)開關(guān)各式各樣的輸出使用方法
檢測(cè)開關(guān)是跟其它電路元件連接一起的,用來(lái)檢測(cè)元件或電路的參數(shù)(如電流、電壓等)的一種開關(guān),檢測(cè)開關(guān)具有感應(yīng)功能,常為各種感應(yīng)開關(guān)或接近開關(guān),需要外接電源才能工作。
檢測(cè)開關(guān)根據(jù)其用途具有各式各樣的輸出使用方法:
1. 接點(diǎn)輸出式
以微型開關(guān)、限位開關(guān)、繼電器的接點(diǎn)為輸出的開關(guān)要素,與電磁開關(guān)、小型馬達(dá)、電磁器等連接作為主要目的,可進(jìn)行數(shù)安培電流的開關(guān)控制。與電子控制設(shè)備連接時(shí),需注意振動(dòng)時(shí)間、最小負(fù)荷電流。
2. 光電耦合輸出式
檢測(cè)電路電氣絕緣,與接點(diǎn)輸出式的使用方法相同??煽刂?0~50mA電流的開關(guān)。
3. 直流3線式
a. 電壓輸出型
進(jìn)行檢測(cè)時(shí),向負(fù)荷輸出電壓信號(hào)。電壓輸出型主要是以連接由電子計(jì)數(shù)器、無(wú)接點(diǎn)繼電器等的晶體管或IC構(gòu)成的電子控制設(shè)備為目的而制造的。
b. 電流輸出型
亦可稱為開放、集電極輸出型。如圖8所示,輸出晶體管動(dòng)作時(shí),有吸入電流的NPN型(電流吸收)和吐出電流的PNP型(電流源)。輸出晶體管中使用小容量的功率晶體管,則可進(jìn)行50~200mA電流的開關(guān),并可直接進(jìn)行電磁繼電器、電磁閥、直流電磁器、顯示燈等負(fù)荷的驅(qū)動(dòng)。
4. 直流2線式
該方式的接近開關(guān)有2根導(dǎo)線,因此,使用時(shí)對(duì)極性予以注意的話,不僅使用方法可與機(jī)械式限位開關(guān)相同,而且配線簡(jiǎn)單,但需注意下述狀況。
(1) 即使開關(guān)處于關(guān)閉狀態(tài),也需向接近開關(guān)的檢測(cè)電路供給電流。為此,負(fù)荷中有微量電流流動(dòng)。該電流稱為漏電流。漏電流時(shí),負(fù)荷兩端產(chǎn)生“漏電流×負(fù)荷也是造成使用初期故障的原因。初期故障的發(fā)生時(shí)間,根據(jù)制造方法的不同而不同,不能一概而論,一般多發(fā)生在使用開始后的一星期到10天內(nèi)。
(2)偶發(fā)故障
包括由于半導(dǎo)體部件的不良而引起的故障,電阻、電容的斷線、短路、容量不足,電路板的電路斷裂、帶焊料等的不良現(xiàn)象,但發(fā)生率極低。接近開關(guān)經(jīng)常發(fā)生故障時(shí),可以考慮為使用環(huán)境的問(wèn)題,請(qǐng)向廠家咨詢。
(3) 負(fù)荷短路與配線錯(cuò)誤
由于配線錯(cuò)誤或帶電作業(yè)引起負(fù)荷短路時(shí),導(dǎo)致大電流流向檢測(cè)開關(guān),輸出回路燒毀。作為在檢測(cè)開關(guān)外進(jìn)行的保護(hù)對(duì)策,可使用切斷快速短路電流的方法,通過(guò)熔斷器進(jìn)行保護(hù),不僅可保護(hù)負(fù)荷短路,還對(duì)地線有保護(hù)作用。但是,由于開關(guān)內(nèi)的輸出晶體管的殘余容量小,達(dá)不到100[%]的效果。
(4) 干擾波導(dǎo)致的破損
由干擾波帶來(lái)的破損是慢慢形成的,因此在開始使用后的一個(gè)月或二三個(gè)月后發(fā)生破損是極其普通的。因此,在該期間發(fā)生破損時(shí),其原因則可判斷為干擾波。電感負(fù)載開閉時(shí)發(fā)生的檢測(cè)開關(guān)的瞬間錯(cuò)誤動(dòng)作是由干擾波造成的。
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